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| dc.contributor | Gomila Lluch, Gabriel | |
| dc.creator | Rebolledo Ceballos, Liceth M. | |
| dc.date | 2011-01-17T11:37:41Z | |
| dc.date | 2011-01-17T11:37:41Z | |
| dc.date | 2011-01-17T11:37:41Z | |
| dc.date.accessioned | 2024-12-16T10:15:35Z | |
| dc.date.available | 2024-12-16T10:15:35Z | |
| dc.identifier | http://hdl.handle.net/2445/15403 | |
| dc.identifier.uri | http://fima-docencia.ub.edu:8080/xmlui/handle/123456789/3660 | |
| dc.description | Màster Oficial en Enginyeria Biomèdica | |
| dc.description | El objetivo de este proyecto es la fabricación de sondas para Microscopía de Fuerzas Atómicas específicas, para su uso en la medición de impedancia eléctrica a la nanoescala, aportando un mínimo de contribuciones parásitas a la medición. Para su consecución se plantea el desarrollo de dos metodologías diferentes: Simulación, diseño y fabricación de sondas específicas: se simula la contribución capacitiva la sonda; diseñando y fabricando las sondas específicas con base a los datos resultantes del cálculo. Modificación de sondas comerciales: Desarrollo de la prueba de concepto, por medio de generación de un aislamiento y apantallamiento, lo cual provoca la reducción de la capacitancia aportada por las sondas comerciales. | |
| dc.format | 51 p. | |
| dc.format | application/pdf | |
| dc.language | spa | |
| dc.rights | cc-by (c) Rebolledo Ceballos, 2011 | |
| dc.rights | http://creativecommons.org/licenses/by/3.0/ | |
| dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess | |
| dc.source | Màster Oficial - Enginyeria Biomèdica | |
| dc.subject | Microscòpia de força atòmica | |
| dc.subject | Impedància (Electricitat) | |
| dc.subject | Treballs de fi de màster | |
| dc.subject | Atomic force microscopy | |
| dc.subject | Impedance (Electricity) | |
| dc.subject | Master's theses | |
| dc.title | Fabricación de sondas de AFM específicas para medidas de impedancia eléctrica a la nanoescala | |
| dc.type | info:eu-repo/semantics/masterThesis |
| Fitxers | Grandària | Format | Visualització |
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