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Condiciones críticas de medición en las mediciones cuantitativas de reflectancia. Errores sistemticos

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dc.creator Vendrell Saz, Màrius
dc.creator López Soler, Ángel
dc.date 2011-05-25T10:49:11Z
dc.date 2011-05-25T10:49:11Z
dc.date 1979
dc.date.accessioned 2024-12-16T10:27:07Z
dc.date.available 2024-12-16T10:27:07Z
dc.identifier 0567-7505
dc.identifier http://hdl.handle.net/2445/18189
dc.identifier 65710
dc.identifier.uri http://fima-docencia.ub.edu:8080/xmlui/handle/123456789/21893
dc.description Se establecen las condiciones criticas que necesariamente tienen que cumplirse cuando se pretende calcular las constantes Opticas (n v k) de un material opaco, mediante las mediciones de reflectancia en dos medios de distinto ndice de refraccion.
dc.format 4 p.
dc.format application/pdf
dc.language spa
dc.publisher Universitat de Barcelona (UB). Institut de Cincias de la Terra Jaume Almera (ICTJA)
dc.relation Reproducció del document publicat a http://www.raco.cat/index.php/ActaGeologica/article/view/74980
dc.relation Acta Geologica Hispanica, 1979, vol. 14, p. 71-74
dc.rights (c) Vendrell-Saz, et al., 1979
dc.rights info:eu-repo/semantics/openAccess
dc.source Articles publicats en revistes (Mineralogia, Petrologia i Geologia Aplicada)
dc.subject Difracció
dc.subject Refracció
dc.subject Diffraction
dc.subject Refraction
dc.title Condiciones críticas de medición en las mediciones cuantitativas de reflectancia. Errores sistemticos
dc.type info:eu-repo/semantics/article
dc.type info:eu-repo/semantics/publishedVersion


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